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이화학기기/과학기기광학기기왜곡(뒤틀림)검사기SVP-30-Ⅱ
SVP-30-Ⅱ
●줄 무늬의 이동량을 마이크로미터로 얻을 수 있음●카메라를 설치하여 측정 시료의 촬영을 할 수 있음●시료대가 넓어 한축 스테이지와 오일 bath 설치로 다른 형태의 시료 측정도 할 수 있음 ●시료의 응력분포를 간섭색으로 관측함
MODEL
측정범위
0~ 20nm(±1nm,0~ 550nm(±5nm
사용온도
실온
전원,소비전력
AC100V /Na Lamp (80W),백열전구(10W)
크기 . 무게
730×500×400mm, 12㎏
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