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이화학기기/과학기기광학기기왜곡(뒤틀림)검사기SVP-30-Ⅱ

 

 

SVP-30-Ⅱ

 

●줄 무늬의 이동량을 마이크로미터로 얻을 수 있음
●카메라를 설치하여 측정 시료의 촬영을 할 수 있음
●시료대가 넓어 한축 스테이지와 오일 bath 설치로 다른 형태의 시료 측정도 할 수 있음 
●시료의 응력분포를 간섭색으로 관측함

  

MODEL

SVP-30-Ⅱ

측정범위

0~ 20nm(±1nm,0~ 550nm(±5nm

사용온도

실온

전원,소비전력

AC100V /Na Lamp (80W),백열전구(10W)

크기 . 무게

730×500×400mm, 12㎏

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